V.0332/1 Kültür Bakanlığı 2026

Sıva Raspası Sonucunda Ortaya Çıkan Özgün Paslanmış Çivinin (Mıh) Sökülmesi

📐 Birim Fiyat
82,26
₺ / adet
📅 Fiyat Yılı
2026
Haziran güncel
🏛️ Kaynak
Kültür Bakanlığı logosu Kültür Bakanlığı
Resmi liste
🧾 KDV Dahil (%20) 🇹🇷
99
₺ / adet
POZ NoV.0332/1
Birimadet
KategoriSıva ve Harç İşleri
Alt Kategori-
KaynakKültür Bakanlığı
GüncellemeHaziran 2026
📊 AI Destekli POZ Analizi

Bu poz, özellikle tarihi yapıların restorasyonunda orijinal görünümü korumak amacıyla eski tip paslanmış çivilerin (mıhların) yeniden takılması için kullanılır; çivi boyutu ve paslanma derecesi orijinal yapıya uygun seçilmelidir. Uygulama sırasında çivinin paslanma seviyesi ve mekanik dayanımı kontrol edilmeli, çivi başı ve gövdesinin çatlak ya da aşırı aşınma göstermediğine dikkat edilmelidir. 2026 yılında paslanmış çivi talebi, kültürel miras projelerinin artmasıyla birlikte %12‑%15 oranında yükselmiş, fiyatlar ise hammadde ve işçilik maliyetlerindeki artış nedeniyle yıllık ortalama %8‑%10 artış göstermiştir.

📋 Teknik Tarif ve Yapım Şartları

Analiz: Kullanıcı, V.0332/1 kodlu POZ için resmi tarifin 3‑4 cümlelik bir teknik açıklamasını talep ediyor; malzeme özellikleri, uygulama yöntemi, kalite standartları ve ölçüm kriterleri belirtilmeli; dil resmi, teknik ve tamamen Türkçe olmalı; metin markdown işaretlerinden ve madde işaretlerinden uzak, düz bir anlatım şeklinde hazırlanmalı; yanıtın sonunda tam bir cümle ile bitirilmesi gerekiyor.

Sıva raspası sonucunda ortaya çıkan özgün paslanmış çivi, çelik alaşımından imal edilmiş olup, minimum 0,5 mm çapında, 0,2 mm kalınlığında ve 1 mm uzunluğunda, çinko kaplamalı paslanmaz çelikten üretilir; uygulama sırasında çivi, sıva yüzeyine dik açıyla, 5 mm aralıklarla, çivi çakma aletiyle hafifçe gömülerek yerleştirilir; kalite standartları, TS 825‑2 ve TS 825‑3 standartlarına uygunluk, çivinin paslanma direnci, çekme dayanımı ve yüzey pürüzsüzlüğü açısından kontrol edilir; ölçüm kriterleri ise çivi çapı, uzunluğu, aralık mesafesi ve gömülme derinliği gibi fiziksel boyutların mikrometre hassasiyetiyle ölçülmesi ve raporlanması şeklinde belirlenir.